两箱式冷热冲击试验箱

产品特点:

本设备适用于各类电工电子产品及其他产品,零部件和材料进行高低温恒定和各种温度冲击及温度迅速变化的可靠性试验。The equipment is suitable for each kind of electronic productand other product; and the parts and materials are subjected tohigh/low temperature constant and each kind of temperatureimpact and temperature quick change reliability test.
产品信息

Reference Standards     参考标准
●GB/T2423.1-2008试验A、低温试验方法
●GB/T2423.2-2008试验B 高温试验方法
●GB/T2423.22-2002温度变化试验方法
●GJB150.3-1986、高温试验
●GJB150.4-1986、低温试验
●GJB150.5-1986 温度冲击试验
●GB/T2423.1-2008 Test A: Low Temperature Test Method
●GB/T2423.2-2008 Test B: High Temperature Test Method
●GB/T2423.22-2002 Test N: Temperature change Test Method
●GJB150.3-1 986 High Temperature Test
●GJB150.4- 1986 Low Temperature Test

●GJB150.5- 1986 Temperature Shock Test


Technical Indicators   技术指标

型号 Model

曝露温度范围Temperature range

提篮尺寸Bucket size(W x H x D)mm

TST-11-A

高温 High temperature +60℃~+200℃

320X148X230

低温 Low temperature -40℃~0℃

TST-11-B

高温 High temperature +60℃~+200℃

320X148X230

低温 Low temperature -55℃~0℃

TST-11-D

高温 High temperature +60℃~+200℃

320X148X230

低温 Low temperature -65℃~0℃

TST-32-A

高温 High temperature +60℃~+200℃

350X300X308

低温 Low temperature -40℃~0℃

TST-32-B

高温 High temperature +60℃~+200℃

350X300X308

低温 Low temperature -55℃~0℃

TST-32-D

高温 High temperature +60℃~+200℃

350X300X308

低温 Low temperature -65℃~0℃

TST-226-A

高温 High temperature +60℃~+200℃

510X510X510

低温 Low temperature -40℃~0℃

TST-226-B

高温 High temperature +60℃~+200℃

510X510X510

低温 Low temperature -55℃~0℃

TST-226-D

高温 High temperature +60℃~+200℃

510X510X510

低温 Low temperature -65℃~0℃